認識邊界掃描測試
工程師使用邊界掃描測試，必須先要準備邊界掃描描述語言 （BSDL）才能進行測試。邊界掃描描述語言 （BSDL） 是基于VHDL的語法和語法，并描述如何在組件中實現邊界掃描體系結構。
如果沒有 BSDL 文件，制造商就無法將其設備描述為符合 IEEE 1149.1 標準。通常，BSDL文件是向芯片廠商獲取的。
BSDL文件概述
邊界掃描測試系統（如XJTAG）使用BSDL文件中包含的信息來確定如何訪問JTAG鏈中的設備。該文件包含以下元素：
1.邏輯端口說明
可用于邊界掃描的端口被描述為'in'，'out'，'inout”或'buffer'；
那些不能使用的，如電源或模擬引腳，分別用“POWER_NEG”和“LINKAGE_OUT”等術語來描述（在2013年標準之前創建的文件不區分不同類型的非邊界掃描端口，而是將它們全部指定為“LINKAGE”）
BSDL文件對引腳的定義
例如，以TMS320F2812的BSDL為例，電源和地都是linkage，表明是不能使用的。
電源和地
而CAN總線的引腳是可以讀寫的，所以能夠進行測試。
CAN總線的引腳
2. ID代碼聲明
描述器件ID寄存器（如果實現）的內容，提供制造商、部件號和硅版本等信息。雖然寄存器對于 IEEE 1149.1 和 1149.6 設備是可選的，但對于符合 IEEE 1149.7 標準的器件，寄存器是必需的。
將每個端口的符號名稱映射到物理引腳，并識別任何未連接的引腳。例如，要將 CE 分配給引腳 1，執行引腳映射的文本字符串將包括：“...CE：1...“.
定義JTAG引腳（TMS，TCK等）。
描述JTAG引腳
提供指令寄存器的長度，并列出必須放置在寄存器中以執行每個邊界掃描操作的二進制操作碼（IEEE 1149.1-2013 中定義的唯一操作碼是 BYPASS 的操作碼）。
描述寄存器信息
定義每個JTAG指令將在TDI和TDO之間放置哪個寄存器。
提供邊界掃描寄存器的大小，并描述它使用的單個單元。
提供有關支持電容耦合數字信號且符合 IEEE 1149.6 標準的任何單元的信息。
描述設備的 IEEE 1149.7 功能，包括其性能等級和可用功能。
